膜厚測定用エリプソメーター
Makple Ellipsometer
●各種透明薄膜(例:ITO、ZnO2、SnO2、SiO2等)に適用
●膜厚&屈折率を短時間で測定可能
●単色光+フルマニュアルで低価格を実現
●サンプルは微小切片から300mmφまで
【 仕 様 】
名 称
モデル名
MEL-1000
膜質
ITO、ZnO2、SnO2、SiO2、TiO2、SiN、MgO、他
試料大きさ
最大φ300mm×高さ5mm
測定角度
0〜61度、 0.2度毎に調整可能
測定位置調整
X軸+R軸+Z軸 (Y軸はX+Rで調整)
光学系構成部品
He-Neレーザー、偏光子、波長板、ピンホール、検出器
外形寸法
1020(W)×535(D)×645(H)mm
重さ
約35kg